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半导体与功率器件测试

  • 适用于各种封装形式的模拟、数字、数模混合集成电路,包括存储器、超大规模集成电路等 IC器件的高温动态老炼筛选和寿命试验。
  • 革命性的创新理念,重新定义环境老化试验设备 HTXB 系列产品是一款多功能的功率半导体器件环境老化试验设备。主要用于功率半导体···
  • B1506A 通用特性 高达 3 kV/1500 A 的运行范围 -50 C 至 +250 C 的全自动快速热测试 自动创建功率器件(半导体和元器件)技术资料···
  • DPT1000A 功率器件动态参数测试系统,专门用于针对三代半导体功率器件的动态特性分析测试,泰克与系统商一起共同解决客户在功率器···
  • 主要特点: 能够可靠、可重复地测量宽带隙(SiC、GaN)功率半导体的动态特征。 测量的特征包括开启、关闭、开关切换、反向恢复、···
  • ●为了实施更加信赖的试验的『3种自检功能』 ●减少安装失误『检查CR值(有标记)』 ●空气放电时确认放电的『放电检查功能』 ···
  • 为了实施更加信赖的试验的『3种自检功能』 减少安装失误『检查CR值(有显示)』 放电盒和CR组件单键更换! 可以简单设定的『···
  • EDS 10IC静电放电发生器针对人体模型(HBM)和机械模型(MM)的静电放电抗扰度试验的特点和要求专门设计,可以对LED、晶体管、IC等半···
  • EDS 30T是一款先进的智能型静电放电发生器,输出电压30kV,也是泰思特自主研发生产,集放电枪头和触摸屏控制于一体的静电放电模拟···
  • EDS 20H是一款先进的手持式静电放电发生器,也是一款自主研发生产的手持式静电放电发生器。
  • EDS 16H是一款先进的手持式静电枪,也是泰思特自主研发生产的一款手持式静电枪。

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